11. ESD-Forum 2009 (Berlin)

Tagungsprogramm 

Sitzung 1: ESD-Schutz in der Fertigung

  • Erfahrungen und Methoden für den Wechsel von ESD-Risiko-Evaluationen an im Betrieb befindlichen Prozessanlagen zu vorbeugenden Typenprüfungen bei Anlagenherstellern 

    U. Thiemann – RoodMicrotec
  • Erdung und Potentialausgleich unter ESD-Gesichtspunkten in modernen Industrieumgebungen 

    T. Müller – Ing.-Büro THOR-DONAR GmbH
  • Anforderungen an transparent ableitfähige ESD-Schutzverglasungen 

    E. Nelles-Schwelm – Evonik Degussa GmbH
  • Richtlinie ESD Schutzmaßnahmen beim Automobilhersteller (Arbeitskreis des ESD Forums) 

    T. Jung – BMW AG
  • Empfehlung zur strukturierten Ausbildung von ESD Fachkräften (Arbeitskreis des ESD Forums) 

    A. Gottschalk – RELNETyX AG

Sitzung 2: ESD Bausteintest

  • Reduzierung der Anzahl der Belastungspulse beim Test nach dem Charged Device Model (CDM) 

    T. Brodbeck – Infineon Technologies AG
  • Charged Device Model Test and its Alternatives 

    H. Gieser – Fraunhofer, IZM
  • The System Theoretical Significance of ESD Protection Integrated with ICs and its Practical Implications 

    K. Kaschani – Atmel Automotive GmbH

Sitzung 3: ESD auf Systemebene

  • ESD-ähnliche Überspannungen an Mikrochips infolge induktiver Lasten: Fallbeispiele und Vorschläge für Gegenmaßnahmen und Tests 

    P. Jacob – Empa Dübendorf und EM Microelectronic Marin SA
  • Vergleich von ESD-System-Level-Testmethoden für Packaging und Handling 

    F. zur Nieden – TU Dortmund
  • Charakterisierung von ESD- Schutzelementen mittels mehrfacher ESD- Stressbelastung 

    H. Ritter – NXP Semiconductors
  • Vorspannung von IEC Generatoren – die versteckte Gefahr 

    D. Johnsson – Infineon Technologies AG

Sitzung 4: ESD Design und Simulation

  • ESD Review Methodology using Transient Simulations on Circuit Level and its Application for JEDEC/ESDA HBM and IEC 61000-4-2 Pulses in Automotive Circuits 

    U. Glaser – Infineon Technologies AG
  • Automotive high voltage circuits: Obstacles on the way to Robustness 

    F. Unterleitner – austriamicrosystems AG
  • Novel SCR based ESD protection concept for high voltage integrated circuits 

    R. Minixhofer – austriamicrosystems AG
  • Impact of Strain on the ESD Robustness in ULSI Technologies (Arbeit gefördert durch ESD Forum) 

    D. Sarkar – University of California
  • Simulationsbasierte Analyse von ESD Schutzelementen auf Systemebene 

    B. Arndt – Continental Automotive GmbH