Latente EOS-Schäden

Häufig wird im Zusammenhang mit der ESD-Festigkeit und ESD-Belastungen elektronischer Produkte die Frage nach der Möglichkeit latenter Schäden gestellt. Dabei wird oftmals vergessen, dass angesichts der hohen EOS-bedingten Ausfallraten die Wahrscheinlichkeit latente Schäden durch Electrical Overstress zu verursachen deutlich größer ist.

Beispiele:

• Auswirkungen von Sperrspannungsspitzen auf die Lebensdauern von Leuchtdioden