„EOS-Tests“
Zusammen mit dem Ruf nach Produkten mit erhöhter oder verbesserter „EOS-Robustheit“ werden auch sogenannte „EOS-Tests“ propagiert. 2015 lieferte eine Internet-Suche nach den Stichworten „IEC 61000-4-5“ (dem „Surge Immunity Test“) und „EOS“ (oder „Electrical Overstress“) ca. 9000 Treffer. Tatsächlich fand sich aber auf der Homepage der International Electrotechnical Commission (IEC) nur die LU-Norm IEC 60749-29 mit einen Hinweis auf „Electrical Overstress“. Auch im Zusammenhang mit „EOS-Tests“ wird offenbar häufig vergessen, dass es sich bei Electrical Overstress nicht um eine Art von Belastung sondern um die Verletzung der Absolute Maximum Ratings eines Produkts handelt. Der Begriff „EOS-Test“ kennzeichnet daher nicht die experimentelle Validierung der „EOS-Robustheit“ eines Produkts, sondern die gezielte Verletzung der Absolute Maximum Ratings des Produkts. Da die Absolute Maximum Ratings eines Produkts aber dazu dienen, Schäden des Produkts zu vemeiden, macht ein „EOS-Test“ keinen Sinn.
Für die Vermeidung EOS-bedingter Ausfälle ist es dagegen erforderlich, die Absolute Maximum Ratings eines Produkts zu validieren. Dies kann z.B. dadurch erfolgen, indem im Rahmen der parametrischen, funktionalen und qualifizierenden Tests des Produkts sichergestellt wird, dass es bei Tests der Absolute Maximum Ratings zu keinen Ausfällen kommt.